M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

振动样品台主要适用于我公司制造的VTC-600-2HD双靶磁控溅射仪、VTC-600-3HD三靶磁控溅射仪。用于对粉末样品的溅射镀膜使用，由于样品台的不断振动，使粉末颗粒样品不断进行翻转，从而使粉末颗粒的整个外表面全部溅射上所需要的薄膜材料，或用薄膜材料将粉末进行包覆。

掩膜版结构简单，主要与我公式制造的GSL-1800X-ZF4蒸发镀膜仪、GSL-1800X-ZF2蒸发镀膜仪、VTC-600-3HD三靶磁控溅射仪、VTC-600-2HD双靶磁控溅射仪、GSL-1100X-SPC-16单靶等离子溅射仪、GSL-1100X-SPC-15E-LD小型蒸镀仪、GSL-1100X-SPC-16C溅射蒸镀膜仪等蒸发镀膜仪和溅射镀膜仪配套使用。

TFMS-LD是一款反射光谱薄膜测厚仪，可快速精确地测量透明或半透明薄膜的厚度，其测量膜厚范围为15nm-50um，仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm。此款测试系统理论基础为镜面反射率，并且采用光纤反射探头。仪器尺寸小巧，方便于在实验室中摆放和使用。